Image courtesy: Fraunhofer IPT  

Industrial Microscopy: Speed is Mandatory

今回初めてアーヘンの Fraunhofer Institute for Production Technology IPT の科学者達が産業環境の中で100パーセントの顕微鏡試験に成功しました。PI のピエゾベースの PIFOC® のドライブ システムがこの成功において決定的な役割を果たしました。

今日 IPT の新しい高スループット プロセスは、数秒以内に大きい表面を持つ対象物を顕微鏡で読み取ります。

例えば、ボードとマイクロウェル プレートに対する従来の高倍率画像記録はしばしば非常に時間がかかるため、100パーセントの試験は可能ではありません。そのためランダムな試験のみが代替手段になります。

そのためランダムな試験のみが代替手段になります。

測定が進行している間でも、継ぎ目なく個々の画像を総合的な画像に統合できます。もちろん、科学者と物理学者はこれが主にシステムと精巧なソフトウェアの処理能力のおかげであるということを認めていますが、また、使用されているハードウェアもこれに貢献しているのです。そのためには、連続したスキャンに応じて焦点を調整する必要があります。

高速オートフォーカスがリアルタイムの能力を保証

表面トポロジは顕微鏡の対象物の焦点深度をかなり超えています。これは、バイオテクノロジーに使用される注射成型プラスチック マイクロウェル プレートが不均一であるか否かに関係ありません。また、ボード上のコンポーネントの様々な異なった高さによるのか否か、あるいはエレクトロニクスの製造中の全体的なウエハースの傾きによるのか否かにも関係ありません。焦点が約300 µmの範囲で調整された場合にのみ、表面に正確に焦点を合わせることができます。そのため、リアルタイムのオートフォーカス機能が3D画像記録に必要です。高精度で光軸の方向にダイナミックに焦点を調整しなければなりません。

このタスクはPIFOC® のピエゾベースの対物スキャナによって実行されます。最大500 µmまでの移動範囲により、それは、オートフォーカスのアプリケーションにうまく適合し、精度および特にダイナミクスを考慮に入れる際には、ステッパー モーターよりもはるかに優れています。PI (Physik Instrumente) のPIFOC® Zドライブは非常に小型で堅牢なものになるように設計されています。

長所: 応答時間が短縮され、安定したガイドのおかげで、精密ポジショニングが比較的大きい移動範囲においてさえも可能になります。ゼロプレイと高精度のフレクシャガイドが、焦点の高安定性を確実にします。

ピエゾ システムは精度が高いものですが、これらのアプリケーションでは、さらなる強みを示します。 10 ミリセカンド以下の反復性と設定時間が重要です。そのため、ピエゾベースのドライブは、対象物が高いスキャン速度の時にピンぼけになるのを防ぎます。そのため、ピエゾベースのドライブは、対象物が高いスキャン速度の時にピンぼけになるのを防ぎます。

直接計測、容量性センサー、およびデジタルコントローラと組み合わされたPIFOC® は最大偏差0.06 %において最も高い直線性を達成しています。容量性センサーは、動いている機械的な部分を物理的接触なしで測定します。摩擦もヒステリシスも測定を妨げません。正確に対象物の位置を個々の画像に合わせることができます。

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これまでで初めて、100パーセントの顕微鏡試験を可能にする新しいシステムが誕生しました。これはまた産業の生産速度と歩調を合わせることができるものです。

Dipl.-Ing. Dipl.-Wirt. Ing. Friedrich Schenk, Research Associate at Fraunhofer IPT

対物スキャナを固定し調整

PI provides all the necessary accessories needed for screwing the PIFOC® into the revolving nosepiece. The aperture of the clamp ring is big enough for objectives up to M34. The threaded adapter for objectives of different sizes are fixed with Torx screws in the clampring. Furthermore, the PIFOC® can flexibly be integrated in platform assemblies. For this purpose, tolerated interfaces are placed in the base body.

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パンフレット

Nanopositioning for Microscopy

Fast, Compact, to the Nanometer

日付 / バージョン
BRO28E R5D
pdf - 8 MB
日付 / バージョン
BRO28CN 2018-12
pdf - 15 MB
パンフレット

Microscope Stage Configurator

Sample Stages and Holders for Inverted Microscopes

日付 / バージョン
BRO70E R3D
pdf - 4 MB

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