リニア ピエゾ フレクシャ ステージ

PI社のナノポジショニングステージとスキャナーでは、ナノメートルの精度の分解能とガイド精度を、クロストークが最小となるように組み合わせています。このため、計測の基準としての用途や微細プロセス、干渉計、あるいは半導体チップ生産における検査システムなどに、特に適しています。

PICMA®ピエゾアクチュエータドライブおよびフレクシャガイド搭載のリニアピエゾステージでは、最大1.5 mmのトラベルレンジに対応できます。

ピエゾフレクシャリニアステージ

P-753 LISA リニアアクチュエーターおよびポジショニングステージ

Dynamic and Stable in Position
  • トラベルレンジ:最大38 µm
  • 最大耐荷重:10 kg

P-752 高精度ナノポジショニングステージ

Highly Dynamic and Stable Piezo Scanner with Extremely Accurate Guiding
  • トラベルレンジ:最大30 µm
  • 最大耐荷重:3 kg
  • 一方向再現性:最大1 nm

P-620.1 - P-629.1 PIHera高精度リニアポジショナー

Variable Travel Ranges and Axis Configuration
  • トラベルレンジ:50 µm~1,800 µm
  • 最大耐荷重:1 kg
  • 双方向再現性:最大1 nm

P-750 Piezo Nanopositioner

High-Load Piezo-Driven Nanopositioner with Direct Position Measuring
  • Travel range: 75 µm
  • Max. payload: 10 kg

P-611.1 Linear Piezo Positioner

Inexpensive, Compact Linear Stage
  • Travel range: to 120 µm
  • Max. payload: 1.5 kg
  • Unidirectional repeatability: 10 nm

ピエゾフレクシャ上下駆動ステージ

P-611.Z ピエゾZステージ

Compact Nanopositioner
  • トラベルレンジ:最大120 µm
  • 最大耐荷重:1.5 kg
  • 双方向再現性:5 nm

P-620.Z - P-622.Z PIHera Vertical Precision Positioner

Variable Travel Ranges and Axis Configuration
  • Travel range: to 350 µm
  • Max. payload: 1 kg
  • Bidirectional repeatability: 1 nm

P-733.Z High Dynamics Z Nanopositioning Stage

Direct Position Measuring and Clear Aperture
  • Travel range: to 115 µm
  • Max. payload: 5 kg
  • Unidirectional repeatability: 2 nm

P-612.Z Piezo Z Stage

Compact Nanopositioner with Aperture
  • Travel range 100 µm
  • Resolution to 0.2 nm
  • Linearity error 0.2 %
  • Compact: Surface 60 mm × 60 mm