PIMarsナノポジショニングステージ、トラベルレンジ100 µm × 100 µm × 100 µm(X × Y × Z)、静電容量式間接位置測定、D-sub 25W3(m)
P-561 • P-562 • P-563 PIMarsナノポジショニングステージ
最大3軸に対応可能な高精度ナノポジショナー
- X軸およびY軸のパラレルキネマティックにより、応答時間の短縮と多軸精度の向上を実現
- 最大トラベルレンジ:300 × 300 × 300 µm
- 静電容量センサーによる優れた直線性
- ゼロプレイで高精度なフレクシャーガイド
- 優れたスキャン平坦度
- 高ダイナミクスなXYZバージョン
- 開口部:66 mm × 66 mm
- PICMA®ピエゾアクチュエーターによる卓越した寿命
応用分野
- 走査型顕微鏡
- マスク/ウエハー位置決め
- 干渉測定
- 測定技術
- バイオテクノロジー
- スキャニングとスクリーニング
PICMA®ピエゾアクチュエーターによる卓越した寿命
PICMA®ピエゾアクチュエーターは、オールセラミック絶縁を採用しています。 これにより湿度やリーク電流の増加に起因する故障から、アクチュエーターを保護。 従来のポリマー絶縁アクチュエーターに比べて、PICMA®アクチュエーターは、最大10倍の寿命を実現。 1,000億回のサイクルでも故障ゼロの実績があります。
静電容量センサーによるサブナノメートル分解能
静電容量センサーは、非接触でサブナノメートル分解能の測定を行います。 優れた動作直線性、長期安定性、kHz領域の帯域幅を保証します。
ゼロプレイのフレクシャーガイドによる高いガイド精度
フレクシャーガイドはメンテナンスフリーで、摩擦や摩耗がなく、潤滑不要です。 高剛性により大きな負荷容量を実現し、衝撃や振動に対して優れた耐性を備えています。 幅広い温度範囲で動作します。
自動構成とコンポーネントの高速交換
メカニカルユニットとコントローラーは必要に応じて組み合わせることができ、短時間で交換可能です。 すべてのサーボパラメーターおよび線形化パラメーターは、機械ユニットのD-subコネクター内にあるIDチップに保存されます。 コントローラーの電源を入れるたびに、デジタルコントローラーのオートキャリブレーション機能が保存されたデータを読み込んで適用します。
パラレル位置測定による、ナノメートルレンジの高い追従精度
すべての自由度を単一の固定基準に対して測定。 軸間で発生する不要なクロストークは、帯域幅に応じてリアルタイムで能動的に補正可能です(アクティブガイディング)。 動的動作時でも、ナノメートルレンジで高い軌道追従性を実現します。
仕様
仕様
| Motion | P-561.3CD | P-561.3CL | P-562.3CD | P-562.3CL | P-563.3CD | P-563.3CL | P-561.3DD | Tolerance |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Active axes | X ǀ Y ǀ Z | X ǀ Y ǀ Z | X ǀ Y ǀ Z | X ǀ Y ǀ Z | X ǀ Y ǀ Z | X ǀ Y ǀ Z | X ǀ Y ǀ Z | |
| Travel range in X | 100 µm | 100 µm | 200 µm | 200 µm | 300 µm | 300 µm | 45 µm | |
| Travel range in Y | 100 µm | 100 µm | 200 µm | 200 µm | 300 µm | 300 µm | 45 µm | |
| Travel range in Z | 100 µm | 100 µm | 200 µm | 200 µm | 300 µm | 300 µm | 15 µm | |
| Travel range in X, open loop, at -20 to 120 V | 150 µm | 150 µm | 300 µm | 300 µm | 340 µm | 340 µm | 58 µm | +20 % / -0 % |
| Travel range in Y, open loop, at -20 to +120 V | 150 µm | 150 µm | 300 µm | 300 µm | 340 µm | 340 µm | 58 µm | +20 % / -0 % |
| Travel range in Z, open loop, at -20 to 120 V | 150 µm | 150 µm | 300 µm | 300 µm | 340 µm | 340 µm | 18 µm | +20 % / -0 % |
| Linearity error in X | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | max. |
| Linearity error in Y | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | max. |
| Linearity error in Z | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.03 % | 0.08 % | max. |
| Straightness error E_XZ | ± 30 nm | ± 30 nm | ± 50 nm | ± 50 nm | ± 50 nm | ± 50 nm | ± 20 nm | typ. |
| Straightness error E_YZ | ± 30 nm | ± 30 nm | ± 50 nm | ± 50 nm | ± 50 nm | ± 50 nm | ± 20 nm | typ. |
| Straightness error E_ZX (flatness) | ± 15 nm | ± 15 nm | ± 20 nm | ± 20 nm | ± 25 nm | ± 25 nm | ± 10 nm | typ. |
| Straightness error E_ZY (flatness) | ± 15 nm | ± 15 nm | ± 20 nm | ± 20 nm | ± 25 nm | ± 25 nm | ± 10 nm | typ. |
| Angular error E_AY (pitch) | ± 1 µrad | ± 1 µrad | ± 2 µrad | ± 2 µrad | ± 2 µrad | ± 2 µrad | ± 3 µrad | typ. |
| Angular error E_AZ | ± 15 µrad | ± 15 µrad | ± 20 µrad | ± 20 µrad | ± 25 µrad | ± 25 µrad | ± 3 µrad | typ. |
| Angular error E_BX (pitch) | ± 1 µrad | ± 1 µrad | ± 2 µrad | ± 2 µrad | ± 2 µrad | ± 2 µrad | ± 3 µrad | typ. |
| Angular error E_BZ | ± 15 µrad | ± 15 µrad | ± 20 µrad | ± 20 µrad | ± 25 µrad | ± 25 µrad | ± 3 µrad | typ. |
| Angular error E_CX (yaw) | ± 6 µrad | ± 6 µrad | ± 10 µrad | ± 10 µrad | ± 10 µrad | ± 10 µrad | ± 3 µrad | typ. |
| Angular error E_CY (yaw) | ± 6 µrad | ± 6 µrad | ± 10 µrad | ± 10 µrad | ± 10 µrad | ± 10 µrad | ± 3 µrad | typ. |
| Positioning | P-561.3CD | P-561.3CL | P-562.3CD | P-562.3CL | P-563.3CD | P-563.3CL | P-561.3DD | Tolerance |
| Unidirectional repeatability in X | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | typ. |
| Unidirectional repeatability in Y | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 2 nm | typ. |
| Unidirectional repeatability in Z | ± 2 nm | ± 2 nm | ± 4 nm | ± 4 nm | ± 4 nm | ± 4 nm | ± 2 nm | typ. |
| Resolution in X, open loop | 0.2 nm | 0.2 nm | 0.4 nm | 0.4 nm | 0.5 nm | 0.5 nm | 0.1 nm | typ. |
| Resolution in Y, open loop | 0.2 nm | 0.2 nm | 0.4 nm | 0.4 nm | 0.5 nm | 0.5 nm | 0.1 nm | typ. |
| Resolution in Z, open loop | 0.2 nm | 0.2 nm | 0.4 nm | 0.4 nm | 0.5 nm | 0.5 nm | 0.1 nm | typ. |
| Integrated sensor | Capacitive, indirect position measuring | Capacitive, indirect position measuring | Capacitive, indirect position measuring | Capacitive, indirect position measuring | Capacitive, indirect position measuring | Capacitive, indirect position measuring | Capacitive, indirect position measuring | |
| System resolution in X | 0.8 nm | 0.8 nm | 1 nm | 1 nm | 2 nm | 2 nm | 0.2 nm | |
| System resolution in Y | 0.8 nm | 0.8 nm | 1 nm | 1 nm | 2 nm | 2 nm | 0.2 nm | |
| System resolution in Z | 0.8 nm | 0.8 nm | 1 nm | 1 nm | 2 nm | 2 nm | 0.2 nm | |
| Drive properties | P-561.3CD | P-561.3CL | P-562.3CD | P-562.3CL | P-563.3CD | P-563.3CL | P-561.3DD | Tolerance |
| Drive type | PICMA® | PICMA® | PICMA® | PICMA® | PICMA® | PICMA® | PICMA® | |
| Electrical capacitance in X | 5.2 µF | 5.2 µF | 7.4 µF | 7.4 µF | 7.4 µF | 7.4 µF | 38 µF | ±20 % |
| Electrical capacitance in Y | 5.2 µF | 5.2 µF | 7.4 µF | 7.4 µF | 7.4 µF | 7.4 µF | 38 µF | ±20 % |
| Electrical capacitance in Z | 10.4 µF | 10.4 µF | 14.8 µF | 14.8 µF | 14.8 µF | 14.8 µF | 6 µF | ±20 % |
| Mechanical properties | P-561.3CD | P-561.3CL | P-562.3CD | P-562.3CL | P-563.3CD | P-563.3CL | P-561.3DD | Tolerance |
| Resonant frequency in X, unloaded | 190 Hz | 190 Hz | 160 Hz | 160 Hz | 140 Hz | 140 Hz | 920 Hz | ±20 % |
| Resonant frequency in X, under load with 350 g | 150 Hz | 150 Hz | 125 Hz | 125 Hz | 93 Hz | 93 Hz | 640 Hz | ±20 % |
| Resonant frequency in Y, unloaded | 190 Hz | 190 Hz | 160 Hz | 160 Hz | 140 Hz | 140 Hz | 920 Hz | ±20 % |
| Resonant frequency in Y, under load with 350 g | 150 Hz | 150 Hz | 125 Hz | 125 Hz | 93 Hz | 93 Hz | 640 Hz | ±20 % |
| Resonant frequency in Z, unloaded | 380 Hz | 380 Hz | 315 Hz | 315 Hz | 250 Hz | 250 Hz | 1050 Hz | ±20 % |
| Resonant frequency in Z, under load with 350 g | 260 Hz | 260 Hz | 211 Hz | 211 Hz | 148 Hz | 148 Hz | 695 Hz | ±20 % |
| Permissible push force in X | 60 N | 60 N | 50 N | 50 N | 40 N | 40 N | 200 N | max. |
| Permissible push force in Y | 60 N | 60 N | 50 N | 50 N | 40 N | 40 N | 200 N | max. |
| Permissible push force in Z | 100 N | 100 N | 60 N | 60 N | 30 N | 30 N | 250 N | max. |
| Permissible pull force in X | 40 N | 40 N | 40 N | 40 N | 30 N | 30 N | 70 N | max. |
| Permissible pull force in Y | 40 N | 40 N | 40 N | 40 N | 30 N | 30 N | 70 N | max. |
| Permissible pull force in Z | 100 N | 100 N | 60 N | 60 N | 30 N | 30 N | 60 N | max. |
| Guide | Flexure guide with lever amplification | Flexure guide with lever amplification | Flexure guide with lever amplification | Flexure guide with lever amplification | Flexure guide with lever amplification | Flexure guide with lever amplification | Flexure guide with direct drive | |
| Overall mass | 1450 g | 1450 g | 1450 g | 1450 g | 1450 g | 1450 g | 1550 g | ±5 % |
| Material | アルミニウム | アルミニウム | アルミニウム | アルミニウム | アルミニウム | アルミニウム | アルミニウム | |
| Resonant frequency in X, under load with 100 g | — | — | 145 Hz | 145 Hz | 120 Hz | 120 Hz | 860 Hz | ±20 % |
| Resonant frequency in Y, under load with 100 g | — | — | 145 Hz | 145 Hz | 120 Hz | 120 Hz | 860 Hz | ±20 % |
| Resonant frequency in Z, under load with 100 g | — | — | 275 Hz | 275 Hz | 215 Hz | 215 Hz | 950 Hz | ±20 % |
| Miscellaneous | P-561.3CD | P-561.3CL | P-562.3CD | P-562.3CL | P-563.3CD | P-563.3CL | P-561.3DD | Tolerance |
| Operating temperature range | -20~80 °C | -20~80 °C | -20~80 °C | -20~80 °C | -20~80 °C | -20~80 °C | -20~80 °C | |
| Connector | D-sub 25W3 (m) | LEMO LVPZT | D-sub 25W3 (m) | LEMO LVPZT | D-sub 25W3 (m) | LEMO LVPZT | D-sub 25W3 (m) | |
| Cable length | 1.5 m | 1.5 m | 1.5 m | 1.5 m | 1.5 m | 1.5 m | 1.5 m | +50 mm / -0 mm |
| Recommended controllers/drivers | E-503、E-505、E-621、E-713、E-727 | E-503、E-505、E-621、E-713、E-727 | E-503、E-505、E-621、E-713、E-727 | E-503、E-505、E-621、E-713、E-727 | E-503、E-505、E-621、E-713、E-727 | E-503、E-505、E-621、E-713、E-727 | E-503、E-505、E-621、E-713、E-727 |
P-561.3DDの直線性誤差:デジタルコントローラー使用時。 アナログコントローラーで測定したダイレクトドライブポジショナーの標準的な非線形性は、最大0.1%です。
パラレルキネマティックは、X軸およびY軸でのみ使用できます(Z軸は対応外)。
PIのピエゾナノポジショニングシステムは摩擦のない構造のため、システムの分解能を制限する要因はアンプや計測系に起因するノイズのみです。
スーパーインバー仕様およびチタニウム仕様も対応可能です。
カスタマイズについてはお問い合わせください。
PI では、技術データは 22 ±3 ℃ において規定されています。 記載がない限り、数値は負荷のない条件のもとにあります。 一部の特性は相互に依存しています。 「typ.」の表記は、特性の統計的な平均値を示すものであり、供給されるすべての製品に対して保証値を示すものではありません。 製品の最終検査では、すべての特性ではなく、選択された特性のみが分析されます。 一部の製品特性は、使用時間の増加に伴って劣化する可能性がある点にご注意ください。
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製品についての注意事項
Product Change Notification Piezo Actuator Driven Products
データシート
ドキュメント
Technical Note P500T0002
Unpacking and Packing P-5xx Positioners
ユーザーマニュアル PZ248
P-561、P-562、P-563 PIMars XYZナノポジショニングシステム
3D モデル
P-56x 3Dモデル
見積 / 発注
必要な数量、価格、およびリードタイムに関する無料の見積を依頼するか、必要な編集について説明します。オンラインで提供されるすべての製品は直接発注できます。
PIMarsナノポジショニングステージ、トラベルレンジ100 µm × 100 µm × 100 µm(X × Y × Z)、静電容量式間接位置測定、LEMO LVPZT
PIMarsナノポジショニングステージ、トラベルレンジ200 µm × 200 µm × 200 µm(X × Y × Z)、静電容量式間接位置測定、D-sub 25W3(m)
PIMarsナノポジショニングステージ、トラベルレンジ200 µm × 200 µm × 200 µm(X × Y × Z)、静電容量式間接位置測定、LEMO LVPZT
PIMarsナノポジショニングステージ、トラベルレンジ300 µm × 300 µm × 300 µm(X × Y × Z)、静電容量式間接位置測定、D-sub 25W3(m)
PIMarsナノポジショニングステージ、トラベルレンジ300 µm × 300 µm × 300 µm(X × Y × Z)、静電容量式間接位置測定、LEMO LVPZT
PIMarsナノポジショニングステージ、トラベルレンジ45 µm × 45 µm × 15 µm(X × Y × Z)、静電容量式間接位置測定、D-sub 25W3(m)、ダイレクトドライブ
見積取得方法
お問い合わせ
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テクノロジー

PICMA® テクノロジー
特許取得済みの多層アクチュエータの製造技術は、高い信頼性と長寿命をお約束いたします。

真空
慎重な取り扱いと確かな根拠: PIは、原材料やコンポーネント、最終製品の品質保証に必要な設備だけでなく、長年にわたる高真空および超高真空ポジショニングシステムに関する経験を有しています。

フレクシャガイドシステム
PI社のフレクシャガイドは、ナノポジショニングの世界においてその価値を証明しています。フレクシャガイドはピエゾをガイドし、傾きや横方向へのズレがない直進性を保証します。

デジタルモーションコントローラ
デジタルテクノロジーにより、従来のアナログ技術にはなかった制御工学使い、パフォーマンスを改善する可能性があります。

静電容量センサ
静電容量センサは、もっとも要求事項の厳しいナノポジショニング用途に適した計測システムです。

パラレルキネマティックピエゾ位置決めシステム
パラレルキネマティック多軸システムでは、すべてのアクチュエータは、ただ一つの可動プラットフォームに対して、ダイレクトに動作します。




















