PIFOC、対物&PInano、顕微鏡用試料スキャナ

PIFOC®/PInano®シリーズのピエゾフレクシャステージと対物スキャナーは、位置決めおよびスキャンのタスクにおいて、ハイダイナミクス動作を実現します。標準製品として、光軸に平行および垂直なXY方向の試料位置決めと、Z軸方向の対物レンズフォーカスが可能な、適応性の高いソリューションを提供しています。

ステージは、コントローラーおよび必要な接続ケーブルとソフトウェアがすべて付属していて便利な、システムとしてもご用意しております。すべてのピエゾシステムと同じく、顕微鏡用ステージおよびスキャナーは事前較正済みの状態で納品され、測定ログが付属します。

顕微鏡用PIFOC®対物スキャナー

新製品

P-725.xCDE1S PIFOC Scanner System for Microscope Objectives

Dynamic focus scanner of the entry-level class for travel ranges up to 400 µm, incl. controller

P-725.xCDE2 PIFOC Focus Scanner for Microscope Objectives

Dynamic Scanning with Travel Ranges of 100 µm, 400 µm, or 800 µm

P-726 PIFOC High-Load Focus Scanner

Highly Dynamic Focus Scanner with Long Travel Range for Heavy Objectives
新製品

V-308 Voice Coil PIFOC Focus Drive for Objectives

High-dynamics positioner for microscope objectives

ND72Z2LAQ PIFOC Objective Scanning System 2000 µm

Nanometer Resolution and Fast Step-and-Settle

P-725.CDD PIFOC High Dynamics Piezo Scanner

Nanopositioner and Scanner for Microscope Objectives

顕微鏡用上下駆動試料ステージ

P-737 PIFOC Specimen Z Positioners

With Large Aperture and Low Profile

P-736 PInano® Z Microscope Scanner

Inexpensive, with Low Profile

PInano®ピエゾフレクシャXY(Z)スキャナー

P-545.xR8S PInano® XY(Z) Piezo System

Inexpensive Nanopositioning System for High-Resolution Microscopy

P-545.xC8S PInano® Cap XY(Z) Piezo System

Capacitive Position Measuring for Super-Resolution Microscopy

P-545.3D8S PInano® Trak Piezo Tracking System

Fast XY(Z) Stage for High Dynamics Microscopy